半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けテストの基礎技術：テスター構成


　　　　　

・Tester1のテスト構成（アナログデジタル同期の構成例）
　Tester1データ取り込み・転送・演算の構成例

・Tester2のテスト構成
　Tester2のアナログデジタル同期構成

・Tester3のテスト構成
　Tester3のデータ取り込み・転送・演算の構成

・Tester4の構成
　Tester4のデータ取り込み・転送・演算とローカルDSPの構成

・Tester5のシステムハードウェア構成
　Tester5の同期構成